“火山论剑”之且用且珍惜- 浅说DFT工程师三大法宝的使用

本文主要是介绍“火山论剑”之且用且珍惜- 浅说DFT工程师三大法宝的使用，希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！

“火山论剑”之且用且珍惜- 浅说DFT工程师三大法宝的使用

2014-12-17 Kevin BriteASIC

众所周知，芯片主要由三大部分构成。

芯片示例-可见下图

1、与电路板和其他芯片的接口-IO pad
2、存放程序的空间-ram和rom
3 、搭建逻辑电路的基本组件 –标准逻辑单元

我们DFT工程师所有的工作的目的只有一个-设计和插入数字电路，测试整个芯片的制造质量，筛选出没有制造缺陷的芯片。

针对芯片的三大部分，我们DFT工程师手里有三大法宝：

法宝一：BSCAN技术-- 测试IO pad，主要实现工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-BSD Compiler；
法宝二：MBIST技术-- 测试mem，主要实现工具是Mentor的MBISTArchitect 和 Tessent mbist；
法宝三：ATPG 技术-- 测试std-logic，主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress 和synopsys TetraMAX，插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。

以上三类工具licenses较贵，特别是ATPG工具，很多IC公司都只有几个，经常run case时出现拿不到license的情况，所以大家只能“且用且珍惜”了。

以下对工具的使用原则做一些介绍：

ATPG工具
Insert scan：
1、虽然教科书会介绍很多种DFT DRC但是在实际设计中95%的工作在修复scan_clk和scan_reset的DRC violation；
2、修复clk/reset violation 的方法主要是用DC插入mux ，目的是使在scan_mode下clk和reset被芯片scan_clk和scan_reset pad控制。同时，scan_clk和scan_reset pad会用于ATE给芯片施加激励；
3、插入scan时，DFT Compiler必须修复的DRC violations 类别为D1/D2/D3/D9；
4、做全片级的DFT设计时，需要在scan_in，scan_out，scan_reset，scan_clk的IO pad 的OEN/IE/REN端插入mux，控制pad的输入和输出方向。

Atpg patterns产生和仿真：
1、所有的模拟模块，例如PLL、POR等，一般设置为black-box，无法用ATPG测试其内部；
2、芯片clk、power、reset的控制寄存器，一般不会放到scan_chain上，以免在测试时由于寄存器的动作，改变芯片工作状态；
3、考虑power domain的开关，一般必须保证在scan测试时，所有power domain都打开，每个数字标准单元都能测试到；
4、如果有模拟的IO pad，一般必须在产生pattern时mask掉，因为他们不是数字的，ATPG工具无法控制它们；
5、业界一般使用DC插入OCC (on chip clocking)模块，实现at-speed scan测试电路。

MBIST工具
目前使用较多的是MBISTArchi，但是Tessent MBIST以后会成为主流。原因是Mentor公司2013年已经宣布MBISTArchi将不再提供技术支持，而且Tessent MBIST技术更为先进。
1、所有的MBIST设计应该考虑diagnose。加入diagnose电路，方便诊断mem故障，这会在芯片量产时大大提高成品率；
2、由于ARM与Mentor有合作，Coretex-A9以上的ARM核具有share-bus接口，可以很好支持Tessent Mbist，就能够实现ARM内核的mem的高速测试和访问，也提高了ARM CPU的性能；
3、Tessent MBIST会使用JTAP，只占用TCK/TMS/TDO/TDI/TRST五个pad,比MBISTArich使用更少的pad资源。