keil5 compiler6 -o1读取内部flash硬件错误的问题

2023-10-08 14:20

本文主要是介绍keil5 compiler6 -o1读取内部flash硬件错误的问题,希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值,需要的开发者们随着小编来一起学习吧!

问题说明

最近在做gd32E230c8t6 BootLoader的时候,发现当打开编译优化-o1的时候,代码运行不正常。
在这里插入图片描述
代码会在读取内部flash内存时出现问题,进入了hardfault。但是改为-o0后,运行就正常了。非常诡异,后面经过反复测试逐步摸清楚了问题的原因。先看问题的代码

uint8_t temp[PAGE_SIZE];
void run_bootloader(void)
{...flash_read(FLASH_SAVE_ADDR_APP,temp,PAGE_SIZE); ...}

其中PAGE_SIZE=1024.这段代码的意思很简单,就是将FLASH_SAVE_ADDR_APP后的1K字节读取到temp数组中。flash_read函数内容如下。

int flash_read(uint32_t addr,uint8_t *buf,uint32_t len)
{//	printf("buf addr:%x %x",(uint8_t*)buf,addr);for(uint16_t i = 0;i<len;i+=4){*( uint32_t*)&buf[i] =*(volatile uint32_t*)(addr+i);}return 0;
}

flash读取是4字节读取,一次读取4字节,这里将buf强制类型转换成了uint32,当i=0时,上述一次赋值相当于将buf[0],buf[1],buf[2],buf[3]进行了赋值,提高了代码的效率。从逻辑上这样做一点问题都没有,但是-o1确出现了问题。

问题原因分析

采用-o1编译,最明显的好处是代码占用空间会急剧减小。下图展示了采用-o1和-o0编译的代码大小,可以看出,采用-o1代码从9k变成了4k。由于gd32E230c8t6 只有64k,所以要尽量减少BootLoader的空间占用,把有限的空间尽量让给app。
在这里插入图片描述
分析问题最好就是硬件debug了
采用-o1编译,其debug如下:
在这里插入图片描述
汇编代码分析:
( uint32_t)&buf[i] =(volatile uint32_t)(addr+i);
这行赋值转换成汇编就是两句话;
0x08000336 581C LDR r4,[r3,r0]
0x08000338 50CC STR r4,[r1,r3]
这两句话的意思是 r3寄存器的值加上寄存器r0的值,该值实际上是一个地址为:0x08009400。然后将0x08009400地址上的值取出来放入寄存器r4.(0x08009400即为设定的FLASH_SAVE_ADDR_APP)

第二句话的意思是,将寄存器r4里面的值(0x20000640)存放到 r3寄存器的值加上寄存器r1的值,该值的地址。就是说将0x20000640写入内存地址0x2000001A。

这里逻辑上也没啥问题,关键是运行完这一句话之后,就进入了hardfault。

那再来看看-o0时的汇编代码
在这里插入图片描述
仔细分析下最后也是将0x20000640存入了地址0x2000001C里面。可以看出没有用-o1代码执行效率低了很多。

通过查看map文件可知,-o1时,temp数组的首地址为0x2000001A;-o0时,temp数组的首地址为0x2000001C;

这段代码的区别就是首地址不一样。arm默认内存都是4字节对齐,因为数据总线也是按照4字节访问,而上述的1a不是4的倍数,1c是4的倍数。也就是说1a不是4字节对齐所以不能强制内存转换为uint32.这样就导致了硬件错误。经过多次验证确实这这个问题。

当-o1优化时,因为定义的temp数字是uint8,没有进行4字节对齐,而是进行了2字节对齐。这种就不能用内存强制转换为4字节。

问题修复

既然找到了原因,那就只需要修改掉flash_read函数即可。

int flash_read(uint32_t addr,uint8_t *buf,uint32_t len)
{
//	printf("buf addr:%x %x",(uint8_t*)buf,addr);for(uint16_t i = 0;i<len;i++){buf[i]=*(volatile uint8_t*)(addr+i);}return 0;
}

这篇关于keil5 compiler6 -o1读取内部flash硬件错误的问题的文章就介绍到这儿,希望我们推荐的文章对编程师们有所帮助!



http://www.chinasem.cn/article/165902

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